表面微粒子計數器QIII為世界，採接觸式、量測物體表面Particle數量的設備！

半導體，面板廠，設備商與所有PARTS CLEAN廠商，驗證PARTS表面是否乾淨的檢驗標準工具，表面塵埃粒子計數器用于測量各種高潔凈度要求的產品，光學鏡片組件，液晶面板及超凈微環(huán)境受控的半導體機臺等表面所附著的塵埃粒子的粒徑大小及單位面積內的數量。

QIII表面微粒子計數器 表面潔凈分析儀更新功能： 
1. 新的取樣模式增加準確度 
2. 7" 800X480大觸控螢幕 (QIII+ 6"觸控螢幕) 
3. 改善取樣Probe插座.易拔插與更換 
4. 二個使用者可換電池插座.可熱拔插 (原廠標配2顆電池.充電器選配) 
5. 可利用USB下載資料 
6. QIII Ultra 可量測到0.1Micron 

QIII表面微粒子計數器 表面潔凈分析儀適合使用單位: 
?      適合客戶群:  包裝材料廠商: 如包裝材, 無塵紙,.....等 
?                    藥廠設備機臺裝表面清潔驗證: 理瓶區(qū),灌裝機, 分裝機, 藥廠包裝材料廠商: 如包裝材,.... 
?       半導體黃光, 蝕刻制程, 零件清洗商,設備清潔維護, 光電廠, 玻璃基板廠等 
?        對曝光機; 顯影機 ,蝕刻, 黃光 及偏光板貼附機臺效果顯著 
?         Capture filter 能收集particles 由EDX 或FTIR分析particle 成分。 
?         適合單位 : PVD, CVD, Photo, Ion Plant, YE, QA, QC ,  Microntation , Etch, Diffusion..